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日本国立九州工业大学信息工学研究院温晓青教授学术讲座:LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

2023年10月14日 21:37  点击:

讲座题目:LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

人:温晓青 教授、IEEE Fellow 博士生导师

讲座时间:20231016日 星期一 16:00

讲座地点:励行楼B112

主办单位:电气与信息工程学院

讲座人简介:

温晓青教授,日本九州工业大学博士生导师、IEEE Fellow。于1986年在清华大学获得学士学位;1990年在日本广岛大学获得硕士学位;1993年在日本大阪大学获得博士学位;19931997年在秋田大学作助理教授;19951996年在美国威斯康星大学作访问学者;19982003年在美国华腾科技有限公司任首席技术官一职;2004年加入日本九州工业大学;现为九州工业大学高可靠性集成系统研究中心主任,主要研究方向包括集成电路与系统芯片的可测性设计、低功耗测试、测试生成及故障诊断等。已发表学术论文170余篇,编著学术专著2本,拥有41项美国专利及14项日本专利,并担任IEEE TCADIEEE TVLSI等学术杂志的编委以及众多国际会议的程序委员。


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